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商品・サービス

VIAVI Solutions
OneAdvisor 800
HCF特性評価テスター

HCF(ホローコアファイバー/空孔コアファイバー/中空コアファイバー)の特性試験でお悩みはありませんか?
OneAdvisor 800 (ONA-800A) なら、これ1台で、HCF用OTDR、CD、PMD、APの全評価項目を完結。
作業効率を向上させ、HCFの評価や早期構築を支援します。
最大50dBのダイナミックレンジに対応したOTDRモジュール、
高精度な光分散測定(CD/PMD/AP)モジュールが特徴的◎
持ち運びができて、コンパクト☆★
圧倒的なパフォーマンスで、多数、お問い合わせをいただいている人気商品です!

OneAdvisor 800 HCF特性評価テスター(VIAVI Solutions)

こんな方に最適です!

  • HCF(ホローコアファイバー/空孔コアファイバー/中空コアファイバー)の特性評価に最適化されたOTDRがほしい!

  • 非OTDRベースで、短距離・中距離・長距離のリンク向けの高度な光分散解析がしたい!

  • ファイバーメーカー様、データセンター相互接続事業者様、ファイバー研究開発者様に導入実績あり

商品・サービス内容

◆シャーシ

OneAdvisor 800 (ONA-800A)
Linux ベースの OS と高度なファイバーの特性評価機能(双方向 OLTS および OTDR、CD、PMD、AP)を提供する、最もスケーラブルでありながら軽量かつコンパクトなプラットフォーム。400G+イーサネット用モジュールや DWDM スペクトラム解析(OSA)用モジュールを追加することで、機能を拡張できます。ソフトケース付き(ハードケースは別売り)

◆モジュール

・光源およびパワーメーターを内蔵した8100 シリーズ OTDR EVO モジュール
最大 50dB のダイナミックレンジ、HCF特有の微弱な後方散乱を捉え、長距離区間のイベント検出を可能にします。高ダイナミックレンジOTDRは、ファイバメーカーの検査・品質管理部門でも活躍しています。

・高精度な光分散測定(ODMv2)モジュール 
CD(波長分散)/PMD(偏波モード分散)/AP(減衰プロファイル)
高性能測定方式: HCFの特性に弱いOTDRベース方式ではなく、位相シフト法(CD)と固定アナライザー法(PMD)採用により、高精度かつ再現性が高い。
圧倒的なパフォーマンス: CD: 最大55dB / PMD: 最大65dBのダイナミックレンジにより、長距離・高い再現性を有しています。
IEC 60793-1-48/-42で承認された信頼性の高い試験方法で、Oバンド含めた広い波長範囲(1260-1640nm)に対応。 
減衰プロファイル測定機能もあり。AP: 水蒸気吸収による減衰プロファイルの把握/非双方向コンポーネント(EDFA,フィルタ、補償器など)を通した試験が可能

・CD/PMD/AP 用の光広帯域光源モジュール
1260~1640nm という最も広い波長範囲をカバーし、湿気吸収(OH–)を含む有効波長範囲を正確に評価できる高性能光ブロードバンド光源

・OTDRポートに光源とパワーメーターを統合した4100Cシリーズ
最大 45dBのHCF OTDRテスト、費用対効果の高い中距離向けソリューション

・広帯域光源
OBS-500 出力レベル: >8dB
OBS-550 出力レベル: >16dB
波長:1460 to 1640nm

構成例

導入イメージ

OTDRを用いたHCF(ホローコアファイバー/空孔コアファイバー/中空コアファイバー)の特性試験

業界最高 最大50dB ダイナミックレンジ
OTDR EVO E8100シリーズ
HCF特有の微弱な後方散乱を捉え、長距離区間のイベント検出を可能にします。高ダイナミックOTDRは、HCFの特性を高精度・正確な測定を可能にします。

独自のHCF専用解析アルゴリズム (ReportPRO)
HCF特有の後方散乱光の長手方向変動や複雑な接続損失を自動補正してくれるソフトウェアです。双方向解析を含む高度な解析により、片方向測定では到達できない正確なリンク損失を算出します。HCF測定データに基づいたアルゴリズムが、ノイズと実際のイベントを正確に切り分けます。

光分散測定
CP(波長分散)/PMD(偏波モード分散)/AP(減衰プロファイル)

◆波長分散
•位相シフト方式(遠端に光源が必要)
•全波長範囲の特性評価
•あらゆる種類のファイバーに対応
•最大55dBの高ダイナミックレンジ

◆偏波モード分散
•フーリエ変換を用いた固定アナライザー法に基づく
•全世界での実績・実証済み
•最大65dBの高ダイナミックレンジ

◆減衰プロファイル
・空気孔構造のため、全波長範囲あたりの損失(dB) (1260-1640nm)
・製造過程における構造不均一性
・HCFとSMF接続の際、MFDの不一致や、熱による空孔の潰れ影響の確認

リーフレット・カタログ

お問い合わせ

HCFテストソリューションをお探しの方、是非お問合せください。

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