SPIE BiOS EXPO 2016
海外

SPIE BiOS EXPO 2016

来る2016年2月13日(土)~14日(日)、The Moscone Center(米国 サンフランシスコ)にて開催される「SPIE BiOS EXPO 2016」に出展いたします。
弊社では、下記の商品をご紹介いたします。是非、NTT-ATのブース(BOOTH NUMBER: 8548)にお越しください。

開催概要

開催期間 2016年2月13日(土)~14日(日)
開催地 The Moscone Center San Francisco, CA , United States
主催 SPIE (the international society for optics and photonics)
公式サイト http://spie.org/conferences-and-exhibitions/photonics-west/bios
入場料 無料

出展概要

出展品目
  • 血流センサ(参考出展)
  • SPR測定装置『Smart SPR SS-1001』
    マルチチャネルで10ng/mlオーダーの測定ができます。

このイベントへのお問い合わせ先

 


Twitterでシェア Facebookでシェア