第35回 エレクトロテスト ジャパン
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第35回 エレクトロテスト ジャパン

来る2018年1月17日(水)~19日(金)、東京ビッグサイトにて開催される「第35回 エレクトロテスト ジャパン」に出展いたします。
弊社では、下記の商品をご紹介いたします。是非、NTT-ATのブースにお越しください。

開催概要

開催期間 2018年1月17日(水)~19日(金)
開催地 東京ビッグサイト
主催 リード エグジビション ジャパン 株式会社
公式サイト http://www.electrotest.jp/
入場料 5,000円(事前登録で無料)

出展概要

出展品目
  • STEM-EDS, -EELSによる原子スケールでの元素マッピング
    種々デバイス/材料の局所構造を原子オーダーで分析します。収束電子回折(CBED)などの手法とは異なり、シミュレーションを行わなくても原子配列の情報を直接的に得ることができます。
  • 全反射蛍光X線分析 (TXRF)
    迅速に、高感度に、かつ多くの元素を検出できる分析方法です。ウェハ全面を検査するSweeping-TXRFも対応いたします。
  • 材料分析サービス
    材料評価で問題があればなんでもご相談ください。弊社の分析サービスは、NTT研究所で長年培ってきた材料分析のノウハウと目的に応じた多彩なサービスラインナップで、あなたの研究開発をサポートします。

このイベントへのお問い合わせ先

 


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