海外

BiOS EXPO

来る2014年2月1日(土)~2日(日)、サンフランシスコにて開催される、「BiOS EXPO」に出展いたします。
弊社では、下記の商品をご紹介いたします。是非、NTT-ATのブースにお越しください。

開催概要

開催期間 2014年2月1日(土)~2日(日)
開催地 The Moscone Center, San Francisco
主催 SPIE
公式サイト http://spie.org/x23679.xml
入場料 無料

出展概要

出展品目
200kHz OCT用波長掃引光源
KTN結晶に印加する電圧により波長を制御する、可動部のない波長掃引光源です。
KTN光スキャナー
KTN結晶に印加する電圧により波長を制光を自在に曲げる光学結晶を用いた従来比100倍高速光スキャナーです。新しい医療を実現します。

このイベントへのお問い合わせ先

 


Twitterでシェア Facebookでシェア