2011年10月24日（月）～　27日（木）「第24回マイクロプロセス・ナノテクノロジー国際会議（MNC 2011）企業展示」出展のお知らせ

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第24回マイクロプロセス・ナノテクノロジー国際会議（MNC 2011）企業展示

来る2011年10月24日（月）～　27日（木）に京都全日空ホテルにて開催される、「第24回マイクロプロセス・ナノテクノロジー国際会議（MNC 2011）企業展示」に出展いたします。

当社では、下記の『材料分析サービス』やバイオセンシング装置『SPR』などを展示いたしますので、是非、NTT-ATのブースに足をお運びいただき、商品をご覧ください。

出展品目	材料分析サービス電気化学センサチップ作製サービス NTT-ATの「電気化学センサチップ作製サービス」は、微細くし形電極を作製して来た経験を生かし、お客様の様々なご要望にお応えできます。深さ方向分析用標準試料 NSIMS、AES、XPS、XRF分析などの深さ方向分解能評価・距離測定・感度評価に用いられる多層膜標準試料です。ご希望の材料組み合わせ、膜厚、層数の標準試料をご提供させていただきます。 MEMS素子用Siプロセスサービスパターン設計からデバイス試作、パッケージングまで幅広いニーズに対応いたします。半導体プロセスサービス NTT-ATは半導体プロセス開発のアウトソーシング・パートナーとして、半導体デバイスの研究開発を総合的に支援いたします。バイオセンシング装置『SPR』

出展品目

材料分析サービス
電気化学センサチップ作製サービス
NTT-ATの「電気化学センサチップ作製サービス」は、微細くし形電極を作製して来た経験を生かし、お客様の様々なご要望にお応えできます。
深さ方向分析用標準試料
NSIMS、AES、XPS、XRF分析などの深さ方向分解能評価・距離測定・感度評価に用いられる多層膜標準試料です。ご希望の材料組み合わせ、膜厚、層数の標準試料をご提供させていただきます。
MEMS素子用Siプロセスサービス
パターン設計からデバイス試作、パッケージングまで幅広いニーズに対応いたします。
半導体プロセスサービス
NTT-ATは半導体プロセス開発のアウトソーシング・パートナーとして、半導体デバイスの研究開発を総合的に支援いたします。
バイオセンシング装置『SPR』

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TEL : 03-5325-0707